GRGTは、中国で唯一、AEC-Q100、AEC-Q101、AECQ102、AECQ103、AEC-Q104、AEC-Q200の包括的な認定レポートを発行できる第三者計測試験機関として、権威と信頼性のある一連のAEC-Q信頼性テストレポートを発行しています。また、GRGTは半導体業界で10年以上の経験を持つ専門家チームを擁し、AEC-Q検証プロセスにおける不合格製品の解析を行い、不合格メカニズムに基づいた製品の改善・アップグレードを支援します。
集積回路、個別半導体、光電子半導体、MEMSデバイス、MCM、抵抗器、コンデンサ、インダクタ、水晶発振器などの受動電子部品
主にIC向けのAEC-Q100
BJT、FET、IGBT、PIN などの AEC-Q101。
LED、LD、PLD、APD 等向け AEC-Q102
MEMS マイク、センサーなど向け AEC-Q103
マルチチップモデル等向けAEC-Q104
AEC-Q200 抵抗器、コンデンサ、インダクタ、水晶発振器など。
テストの種類 | テスト項目 |
パラメータテスト | 機能検証、電気的性能パラメータ、光学パラメータ、熱抵抗、物理的寸法、アバランシェ耐性、短絡特性など。 |
環境ストレステスト | 高温動作寿命、高温逆バイアス、高温ゲートバイアス、温度サイクリング、高温保管寿命、低温保管寿命、オートクレーブ、高加速ストレステスト、高温高湿逆バイアス、高湿 高温動作寿命、低温動作寿命、パルス寿命、断続動作寿命、電力温度サイクル、一定加速度、振動、機械的衝撃、落下、微細および粗大漏れ、塩水噴霧、露、硫化水素、混合ガス流動など。 |
プロセス品質評価 | 破壊的物理分析、端子強度、耐溶剤性、はんだ付け耐熱性、はんだ付け性、ワイヤボンドせん断、ワイヤボンド引張、ダイせん断、鉛フリー試験、可燃性、難燃性、基板の屈曲、梁荷重など。 |
静電気放電 | 静電気放電人体モデル、静電気放電帯電デバイスモデル、高温ラッチアップ、室温ラッチアップ |